IC设计

如何克服复杂待测件在生产测试中的挑战

我们每天购买和使用的产品比几年前复杂得多。物联网、技术融合、语音控制以及更多的趋势正在推动设备功能越来越强,随之而来的是测试团队的压力越来越大。 上一次您遇到一个简

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通过改善生产测试来提高产品质量

计时精度经常被忽略。触发和同步需要在待测件(DUT)刺激、响应和测量间保持一致。这里如果没有精确性,您将永远无法对他们之间的因果关系保持信心。将尽可能多的仪器集成到类

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实现安全的自动驾驶的取舍迫在眉睫

根据世界卫生组织的数据,每年因交通事故而导致的死亡人数是125万、造成的政府损失大约为GDP的3%。尽管自动驾驶的潜在影响广泛而深远,延伸到个人、经济和政治领域,仅看它可能

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