PIC与硅光器件的光学接口、芯片结构和测试流程并不完全相同。设备开发者需要的不只是高精度位移台，还包括可适配不同测试任务的机械架构和软件控制。Akhetonics与SmarAct的合作展示了这种模块化测试方案如何形成。
要把早期PIC设计进一步推向更大规模应用，测试平台本身也必须能够随器件和流程持续调整。为此，Akhetonics与SmarAct共同开发了一套紧凑、模块化的PIC测试架构。
一、围绕PIC研发需求共同开发测试平台
Akhetonics与SmarAct的合作始于四年前在瑞士巴塞尔举行的ECOC 22欧洲光通信大会。当时，Akhetonics正在寻找一套用于先进PIC器件表征的灵活光学测试系统。
在明确系统性能要求后，Akhetonics工程团队与SmarAct产品开发团队进行了多轮3D CAD设计迭代，最终确定系统方案。
-
SmarAct提供纳米定位平台，构成整个测试工作站的精密运动核心；
-
Akhetonics则负责集成光纤夹具、光纤阵列单元夹具、光学与电学测量设备，以及用于光子器件表征的软件程序。
这种分工让Akhetonics能够按照自身器件和测试需求设计工作流程，同时依托稳定、可重复的精密定位平台完成多轴运动。
二、Python与SCoPE将精密运动接入自动化测试
在PIC测试中，定位平台需要与测量设备和表征程序协同运行。SmarAct的软件生态系统和Python接口使Akhetonics能够将纳米定位平台直接集成到PIC测试程序中。
SmarAct Control and Process Environment（SCoPE）进一步将可视化流程建模、Python脚本编程和硬件集成纳入统一环境，可用于开发、控制和执行自动化流程，例如所有运动轴的快速校准和对准。
SCoPE提供可视化拖放式流程编辑、实时流程状态显示、自定义逻辑和算法，并支持第三方设备控制。通过专用插件，还可集成SmarAct定位系统、控制器、夹持器和干涉仪；同时支持Qt组件、实时数据可视化、图像处理以及插件化扩展。
这些功能使精密定位不再作为独立的运动环节存在，而是能够进一步融入完整的器件测试和自动化流程。
三、为PIC测试规模扩大保留扩展空间
随着Akhetonics的PIC测试由研发阶段逐步进入小批量生产，并进一步面向规模化制造，测试平台需要承接更多器件、更复杂流程以及更高程度的自动化。
硅光和PIC测试常涉及多种光学接口及表征任务，因此平台的可扩展性与定位能力同样关键。Akhetonics项目属于光子计算PIC测试案例，并非晶圆量产产线的实测证明；但其模块化架构对硅光研发和设备开发具有参考意义。选择供应商时应核实实际芯片、夹具和自动化流程的适配条件。
本文转载自公众号：SmarAct德国高精技术方案
